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ASTM C1549-2004 使用便携式太阳反射计测定接近室内温度太阳反射比的标准试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 19:11:38  浏览:9705   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforDeterminationofSolarReflectanceNearAmbientTemperatureUsingaPortableSolarReflectometer
【原文标准名称】:使用便携式太阳反射计测定接近室内温度太阳反射比的标准试验方法
【标准号】:ASTMC1549-2004
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2004
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:C16.30
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:便携的;反射率;反射计;接近;测定;环境温度
【英文主题词】:portablereflectometer;reflectometer;solarreflectance;solarreflectometer
【摘要】:Thetemperaturesofopaquesurfacesexposedtosolarradiationaregenerallyhigherthantheadjacentairtemperatures.Inthecaseofroofsorwallsenclosingconditionedspaces,increasedinwardheatflowsresult.Inthecaseofequipmentorstoragecontainersexposedtothesun,increasedoperatingtemperaturesusuallyresult.Theextenttowhichsolarradiationaffectssurfacetemperaturesdependsonthesolarreflectanceoftheexposedsurface.Asolarreflectanceof1.0(100%reflected)wouldmeannoeffectonsurfacetemperaturewhileasolarreflectanceof0(nonereflected,allabsorbed)wouldresultinthemaximumeffect.Coatingsofspecificsolarreflectanceareusedtochangethetemperatureofsurfacesexposedtosunlight.Coatingsandsurfacefinishesarecommonlyspecifiedintermsofsolarreflectance.Theinitial(clean)solarreflectancemustbemaintainedduringthelifeofthecoatingorfinishtohavetheexpectedthermalperformance.Thetestmethodprovidesameansforperiodictestingofsurfacesinthefieldorinthelaboratory.Monitorchangesinsolarreflectanceduetoagingandexposure,orboth,withthistestmethod.Thistestmethodisusedtomeasurethesolarreflectanceofaflatopaquesurface.Theprecisionoftheaverageofseveralmeasurementsisusuallygovernedbythevariabilityofreflectancesonthesurfacebeingtested.UsethesolarreflectancethatisdeterminedbythismethodtocalculatethesolarenergyabsorbedbyanopaquesurfaceasshowninEq1.5.4.1Combinetheabsorbedsolarenergywithconductive,convectiveandotherradiativetermstoconstructaheatbalancearoundanelementorcalculateaSolarReflectanceIndexsuchasthatdiscussedinPracticeE1980.1.1Thistestmethodcoversatechniquefordeterminingthesolarreflectanceofflatopaquematerialsinalaboratoryorinthefieldusingacommercialportablesolarreflectometer.Thepurposeofthetestmethodistoprovidesolarreflectancedatarequiredtoevaluatetemperaturesandheatflowsacrosssurfacesexposedtosolarradiation.1.2ThistestmethoddoesnotsupplantTestMethodE903whichmeasuressolarreflectanceoverthewavelengthrange250to2500nmusingintegratingspheres.Theportablesolarreflectometeriscalibratedusingspecimensofknownsolarreflectancetodeterminesolarreflectancefrommeasurementsatfourwavelengthsinthesolarspectrum:380nm,500nm,650nm,and1220nm.ThistechniqueissupportedbycomparisonofreflectometermeasurementswithmeasurementsobtainedusingTestMethodE903.Thistestmethodisapplicabletospecimensofmaterialshavingbothspecularanddiffuseopticalproperties.Itisparticularlysuitedtothemeasurementofthesolarreflectanceofopaquematerials.1.3ThevaluesstatedinSIunitsaretoberegardedasthestandard.Thevaluesinparenthesisareforinformationonly.1.4Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:


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基本信息
标准名称:白噪声测试设备检定规程
英文名称:Verification Regulation of White Noise Measuring set
中标分类:
发布部门:邮电部
发布日期:
实施日期:1991-06-01
首发日期:
作废日期:
归口单位:邮电部通信计量中心
起草单位:邮电部通信计量中心
出版日期:
页数:23页
适用范围

本规程适用于新制造、新购进、使用中和修理调整后的白噪声测试设备的检定,其它同类型的白噪场测试设备也可参照本规程进行检定。

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所属分类:
基本信息
标准名称:半导体分立器件 3DG142型硅超高频低噪声晶体管详细规范
英文名称:Semiconductor discrete devices Detail specification for type 3DG142 silicon UHF low-noise transistor
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体分立器件综合
发布部门:中华人民共和国信息产业部
发布日期:2002-10-30
实施日期:2003-03-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
提出单位:中华人民共和国信息产业部
归口单位:信息产业部电子第四研究所
起草单位:中国电子科技集团公司第十三所
起草人:高颖、王于辉、崔波
出版社:工业电子出版社
出版日期:2003-03-01
页数:8页
适用范围

本规范规定了3DG142型硅超高频低噪声晶体管的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。

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引用标准

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所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体分立器件综合

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